컴퓨터와 스마트폰 등 많은 전자제품에 들어가는 금속중의 하나가 텅스텐(钨)이다. 그런데 이런 텅스텐이 뇌졸중을 유발한다는 연구결과가 나왔다.

이는 영국 엑스터대학의 연구팀이 18～74세 미국인 8600여명을 12년간 추적조사한 결과다. 연구팀이 이들의 소변 샘플을 검사해 몸속 텅스텐 함유량과 건강상태간의 관계를 살펴본 결과 텅스텐 함유량이 많을수록 뇌졸중 발병률이 높은것으로 나타났다.

몸속 텅스텐 축적량이 1마이크로그램 늘어날 때마다 뇌졸중 발병률은 두배 더 높아졌다. 특히 50세 미만의 년령대에서 텅스텐과 뇌졸중 발병간의 상관관계가 뚜렷한것으로 나타났다.

연구팀은 텅스텐이 왜 이처럼 뇌졸중발병을 유발하는지에 대해서는 밝혀내지 못했으나 텅스텐이 두뇌속에 염증을 일으키고 유전적 영향을 미치기때문일것으로 추정했다.

연구를 이끈 제시카 타이렐 박사는 《텅스텐은 전자제품을 비롯해 많이 쓰이고있는 금속이지만 가장 연구되지 않은 금속중의 하나》라면서 《인체에 유해하지 않은 텅스텐 로출 기준을 마련하는것이 필요하다》고 말했다.

편집/기자: [ ] 원고래원: [ 본지종합 ]